| کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
|---|---|---|---|---|
| 11016480 | 1777112 | 2018 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Complex automotive ICs defect localization driven by quiescent power supply current: Three cases study
ترجمه فارسی عنوان
محلی سازی نقص پیچیده ای از خودروهای مجهز به جریان الکتریسیته ساکن: سه مورد مطالعه شده است
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
[]Â SS1 (Special Session) - Reliability in Traction Applications
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volumes 88â90, September 2018, Pages 294-298
Journal: Microelectronics Reliability - Volumes 88â90, September 2018, Pages 294-298
نویسندگان
G. Marcello, E. Meda, M. Medda,