کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
11016480 1777112 2018 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Complex automotive ICs defect localization driven by quiescent power supply current: Three cases study
ترجمه فارسی عنوان
محلی سازی نقص پیچیده ای از خودروهای مجهز به جریان الکتریسیته ساکن: سه مورد مطالعه شده است
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
چکیده انگلیسی
[]  SS1 (Special Session) - Reliability in Traction Applications
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronics Reliability - Volumes 88–90, September 2018, Pages 294-298
نویسندگان
, , ,