کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1134696 | 956077 | 2010 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Development of expert decision model to monitor precision of solar silicon wafer machine line
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی صنعتی و تولید
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
In this study, we develop a two-stage decision model for managing uncertainty and imprecision of solar silicon wafer slicing evaluations during a wafer manufacturing process. Stage 1 is the evaluation process, which is performed by a procedure based on a combination of the fuzzy analytic hierarchy process (AHP) and the TOPSIS method. Stage 2 is the verification process, in which process capability indices are calculated to verify the feasibility and effectiveness of the proposed methods.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Computers & Industrial Engineering - Volume 59, Issue 4, November 2010, Pages 481-487
Journal: Computers & Industrial Engineering - Volume 59, Issue 4, November 2010, Pages 481-487
نویسندگان
Che-Wei Chang, Chung-Chih Chen,