کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1268122 | 972394 | 2010 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Low-voltage organic thin-film transistors with hydrophobic hafnium oxynitride film as gate insulator
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
An excellent gate dielectric of amorphous HfON (a-HfON) can be fabricated by flashing a Hf metal layer prior to a-HfON deposition. Nitrogen incorporation in the HfON film can reduce leakage current density from 8 × 10−7 to 10−7 A/cm2. And surface roughness of a-HfON is reduced by the flash Hf metal layer from 1.9 to 1.2 nm. With the flash Hf metal layer, field effect mobility (0.17 cm2/V s), threshold voltage (−0.3 V), subthreshold swing (−0.209 V/decade), and on/off current ratio (3.2 × 103) can be achieved for organic thin-film transistors with a-HfON gate dielectric.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Organic Electronics - Volume 11, Issue 1, January 2010, Pages 123–126
Journal: Organic Electronics - Volume 11, Issue 1, January 2010, Pages 123–126
نویسندگان
Li-Shiuan Tsai, Chung-Hwa Wang, Wei-Yu Chen, Wen-Chieh Wang, Jennchang Hwang,