کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1460937 | 989611 | 2015 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Piezoelectric properties of lead-free (Na0.5Bi0.5)0.95Ba0.05TiO3 thin films on polycrystalline nickel foils
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Lead-free (Na0.5Bi0.5)0.95Ba0.05TiO3 (0.95NBT–0.05BT) thin films were deposited on polycrystalline Ni substrates by using the RF high-pressure sputtering system. Microstructural studies by high resolution X-ray diffraction reveal that the as-deposited 0.95NBT–0.05BT thin films are polycrystalline structures. The piezoelectric property measurements by a piezoresponse force microscopy exhibit that the polycrystalline 0.95NBT–0.05BT thin films have an excellent piezoelectric response. It is indicated that the as-grown 0.95NBT–0.05BT thin films have the potential for the development of the structural health monitoring systems and related device applications.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ceramics International - Volume 41, Supplement 1, July 2015, Pages S319–S322
Journal: Ceramics International - Volume 41, Supplement 1, July 2015, Pages S319–S322
نویسندگان
Sheng Cheng, Ming Liu, Jiangbo Lu, Lu Lu, Linglong Li, Yaodong Yang,