کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1462061 | 989627 | 2012 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Microwave dielectric properties of the (BaxSr1−x)TiO3 thin films on alumina substrate
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Barium strontium titanate, (BaxSr1−x)TiO3 (BST) thin films have been prepared on alumina substrate by sol–gel technique. The X-ray patterns analysis indicated that the thin films are perovskite and polycrystalline structure. The interdigital electrode with 140 nm thickness Au/Ti was fabricated on the film with the finger length of 80 μm, width of 10 μm and gaps of 5 μm. The temperature dependence of dielectric constant of the BST thin films in the range from −50 °C to 50 °C was measured at 1 MHz. The dielectric properties of the BST thin films were measured by HP 8510C vector network analyzer from 50 MHz to 20 GHz.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ceramics International - Volume 38, Supplement 1, January 2012, Pages S197–S200
Journal: Ceramics International - Volume 38, Supplement 1, January 2012, Pages S197–S200
نویسندگان
Peng Qi, Ji-wei Zhai, Xi Yao,