کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1470890 | 990337 | 2009 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
ToF-SIMS depth profile of the surface film on pure magnesium formed by immersion in pure water and the identification of magnesium hydride
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) was used to examine the film formed on pure magnesium by immersion for 2 min in ultra pure water. The ToF-SIMS data indicates that there is magnesium hydride within the surface film. The presence of MgH2 is a result of the Mg corrosion mechanism.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Corrosion Science - Volume 51, Issue 9, September 2009, Pages 1883–1886
Journal: Corrosion Science - Volume 51, Issue 9, September 2009, Pages 1883–1886
نویسندگان
Antoine Seyeux, Ming Liu, Patrik Schmutz, Guangling Song, Andrej Atrens, Philippe Marcus,