کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1470890 990337 2009 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
ToF-SIMS depth profile of the surface film on pure magnesium formed by immersion in pure water and the identification of magnesium hydride
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ToF-SIMS depth profile of the surface film on pure magnesium formed by immersion in pure water and the identification of magnesium hydride
چکیده انگلیسی

Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) was used to examine the film formed on pure magnesium by immersion for 2 min in ultra pure water. The ToF-SIMS data indicates that there is magnesium hydride within the surface film. The presence of MgH2 is a result of the Mg corrosion mechanism.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Corrosion Science - Volume 51, Issue 9, September 2009, Pages 1883–1886
نویسندگان
, , , , , ,