کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1475749 991128 2009 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Optical characterization of stereolithography alumina suspensions using the Kubelka–Munk model
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Optical characterization of stereolithography alumina suspensions using the Kubelka–Munk model
چکیده انگلیسی

The multiple light scattering in concentrated alumina suspensions adapted to stereolithography can be modeled using diffuse reflectance measurements coupled to the Kubelka–Munk model. The penetration depth of UV radiation can be related to the scattering coefficient allowing the prediction of the cure depth with an accuracy of 20%.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of the European Ceramic Society - Volume 29, Issue 5, March 2009, Pages 919–924
نویسندگان
, , , , ,