کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1483982 | 1510514 | 2009 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Electron beam probing of silica surface layers on alumina
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
72.20.Jv77.84.-sSEM S10072.20.-i - 72.20.-من84.37.+q - 84.37 + qMeasurement techniques - تکنیک های اندازه گیریThermally stimulated and depolarization current - جریان حرارتی تحریک شده و دپولاریاسیونElectrical and electronic properties - خواص الکتریکی و الکترونیکیSilica - سیلیس یا سیلیکاOxide glasses - عینک اکسیدFilms and coatings - فیلم ها و پوشش هاModeling and simulation - مدل سازی و شبیه سازیScanning electron microscopy - میکروسکوپ الکترونی روبشیMicroscopy - میکروسکوپ یا ریزبینConductivity - هدایت
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The electron beam induced self-consistent charge injection and transport in a layered insulator SiO2-Al2O3 is described by means of an electron-hole flight-drift model FDM and an iterative computer simulation. Thermal and field-enhanced detrapping are included by the Poole-Frenkel effect. The surface layer with a modified electric surface conductivity is included which describes the surface leakage currents. Furthermore, it will lead to particular charge incorporation at the interface between the surface layer and the bulk substrate. As a main result the time-dependent spatial distributions of currents j(x,t), charges Ï(x,t), field F(x,t), and potential V(x,t) are obtained. The spatial charge distribution with depth shows a quadro-polar plus-minus-plus-minus structure in nanometer dimension.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Non-Crystalline Solids - Volume 355, Issues 18â21, 1 July 2009, Pages 1111-1114
Journal: Journal of Non-Crystalline Solids - Volume 355, Issues 18â21, 1 July 2009, Pages 1111-1114
نویسندگان
N. Cornet, D. Goeuriot, M. Touzin, C. Guerret-Piécourt, D. Juvé, D. Tréheux, H.-J. Fitting,