کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1493205 | 1510774 | 2016 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Solid state dielectric screening versus band gap trends and implications
ترجمه فارسی عنوان
غربالگری دی الکتریک حالت جامد در برابر روندهای شکاف باند و پیامدهای آن
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
ثابت دی الکتریک نوری، ثابت دی الکتریک استاتیک، شاخص شکستگی، فاصله باند، پراکندگی فون نوری قطبی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optical Materials - Volume 60, October 2016, Pages 181-187
Journal: Optical Materials - Volume 60, October 2016, Pages 181-187
نویسندگان
Ram Ravichandran, Alan X. Wang, John F. Wager,