کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1503290 | 993462 | 2007 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
The effects of annealing temperature on the properties of Bi3.15Nd0.85Ti3O12 thin films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
سرامیک و کامپوزیت
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The effects of annealing temperature on microstructure, remnant polarization (2Pr), leakage current and residual stress in Bi3.15Nd0.85Ti3O12 (BNT) thin films prepared by metal-organic decomposition were studied. The best surface features was observed, and the largest 2Pr (63.2 μC cmâ2 under 530 kV cmâ1) and lowest leakage current (1.32 Ã 10â5 A cmâ2 under 125 kV cmâ1) of the film were obtained with annealing at 700 °C. Moreover, the strong residual tensile stress in BNT thin film causes surface fracture and ferroelectric degradation.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Scripta Materialia - Volume 57, Issue 8, October 2007, Pages 675-678
Journal: Scripta Materialia - Volume 57, Issue 8, October 2007, Pages 675-678
نویسندگان
X.J. Zheng, W.M. Yi, Y.Q. Chen, Q.Y. Wu, L. He,