کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1518496 | 1511630 | 2005 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Examination of Bragg backscattering from crystalline quartz
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The backscattering silicon single crystals normally used for hard X-ray inelastic scattering experiments suffer from parasitic reflections and gaps in photon energy where no backscattering reflection exists. Sapphire has been proposed as a possible alternative, but quartz may have advantages over sapphire at low photon energies (5–12.5 keV). Calculations of energy widths of backscattering reflections up to 30 keV for silicon, sapphire, and quartz are compared. The quartz (11 6 0) reflection is examined at 0.03° from backscattering with 0.8 meV bandwidth beam, and its energy width is measured. Finally, the thermal expansions of quartz and silicon are compared.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Physics and Chemistry of Solids - Volume 66, Issue 12, December 2005, Pages 2306–2309
Journal: Journal of Physics and Chemistry of Solids - Volume 66, Issue 12, December 2005, Pages 2306–2309
نویسندگان
John P. Sutter, Alfred Q.R. Baron, Tetsuya Ishikawa, Hiroshi Yamazaki,