کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1524120 | 1511824 | 2012 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Raman scattering, microstructural and dielectric studies on Ba1âxCaxBi4Ti4O15 ceramics
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Raman scattering, microstructural and dielectric studies on Ba1âxCaxBi4Ti4O15 ceramics Raman scattering, microstructural and dielectric studies on Ba1âxCaxBi4Ti4O15 ceramics](/preview/png/1524120.png)
چکیده انگلیسی
⺠Ba1âxCaxBi4Ti4O15 (0 â¤Â x â¤Â 1) ceramics with four-layer Aurivillius structure were fabricated. ⺠X-ray diffraction and Raman scattering techniques have been employed to probe into the structural changes on changing x. ⺠Curie temperature (TC) was found to increase with increase in Ca-doping whereas the diffuseness of phase transition decreased. ⺠Temperature coefficient of dielectric constant can be tuned over a wide range of temperature by changing Ca-content. ⺠Ferroelectric and piezoelectric properties are investigated.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Chemistry and Physics - Volume 136, Issues 2â3, 15 October 2012, Pages 680-687
Journal: Materials Chemistry and Physics - Volume 136, Issues 2â3, 15 October 2012, Pages 680-687
نویسندگان
Sunil Kumar, Swarup Kundu, D.A. Ochoa, J.E. Garcia, K.B.R. Varma,