کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1528917 995722 2013 9 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Ion-beam synthesis and characterization of narrow-gap A3B5 nanocrystals in Si: Effect of implantation and annealing regimes
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Ion-beam synthesis and characterization of narrow-gap A3B5 nanocrystals in Si: Effect of implantation and annealing regimes
چکیده انگلیسی
Highlights
- Ion implantation and annealing were used to synthesize InAs and GaSb nanocrystals (NCs) in Si.
- Nanocrystal size is varied from 2 to 100 nm depending on implantation and annealing regimes and on getter layer presence.
- Strain relaxation in A3B5/Si systems results in a misfit dislocation networks creation at A3B5 nanoclusters/Si interfaces.
- An anomalous bright “glowing” of nanocrystal/Si interfaces in dark-field TEM images is observed and discussed, too.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science and Engineering: B - Volume 178, Issue 18, 1 November 2013, Pages 1169-1177
نویسندگان
, , , , , , ,