کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1534192 1512591 2014 10 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Imaging properties of different types of microscopes in combination with an image inversion interferometer
ترجمه فارسی عنوان
خواص تصویربرداری از انواع میکروسکوپ های مختلف در ترکیب با یک تداخل سنج تهاجمی تصویر
کلمات کلیدی
ترجمه چکیده
در این کار، ما تاثیر نفوذ پینوکل بر روی رزولوشن، قابلیت برش و ویژگی های نویز یک میکروسکوپ فلورسانس کانونیکال همراه با چنین تداخل سنجی را بررسی می کنیم. علاوه بر این، ما مزایای تداخل سنج های تهاجم تصویر را برای میکروسکوپ های دو فوتون و همچنین برای میکروسکوپ های فوکوس فوکوس نشان می دهیم. در نتیجه، افزایش اطلاعات در سیستم های افزایش بینابینی، می تواند تا 500٪ از نظر عملکرد انتقال نوری باشد.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش مقاله
خواص تصویربرداری از انواع میکروسکوپ های مختلف در ترکیب با یک تداخل سنج تهاجمی تصویر
چکیده انگلیسی
In this work, we investigate the influence of a pinhole on the resolution, the sectioning capability and the noise characteristics of a confocal fluorescence microscope combined with such an interferometer. Additionally, we demonstrate the benefits of image inversion interferometers for two-photon microscopes, as well as for extended-focus microscopes. As a result, the increase in information for interferometrically enhanced systems can be up to 500% in terms of the optical transfer function.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics Communications - Volume 332, 1 December 2014, Pages 301-310
نویسندگان
, , , ,