کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1538852 | 996623 | 2009 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Off-axis low coherence interferometry contouring
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
In this article we present a method to achieve tri-dimensional contouring of macroscopic objects. A modified reference wave speckle interferometer is used in conjunction with a source of reduced coherence. The depth signal is given by the envelope of the interference signal, directly determined by the coherence length of the source. Fringes are detected in the interferogram obtained by a single shot and are detected by means of adequate filtering. With the approach based on off-axis configuration, a contour line can be extracted from a single acquisition, thus allowing to use the system in harsh environment.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics Communications - Volume 282, Issue 23, 1 December 2009, Pages 4595–4601
Journal: Optics Communications - Volume 282, Issue 23, 1 December 2009, Pages 4595–4601
نویسندگان
Yves Delacrétaz, Nicolas Pavillon, Florian Lang, Christian Depeursinge,