کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1541838 | 996695 | 2007 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Direct measurement of free carrier nonlinearity in semiconductor-doped glass with picosecond pump-probe Z-scan experiment
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We report the direct measurement of free carrier nonlinearity in a semiconductor-doped glass with picosecond pump-probe Z-scan experiment. A strong Z-scan signal from a weak and time delayed probe beam is observed. The probe beam Z-scan signal is comparable in magnitude to the Z-scan signal of the intense pump beam, clearly showing the dominance of the effective fifth order nonlinearity due to the pump beam generated free carriers in the overall nonlinear response of semiconductor-doped glass. The estimated magnitude of the fifth order nonlinearity is consistent with that obtained from earlier reported experiments.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics Communications - Volume 271, Issue 1, 1 March 2007, Pages 248-252
Journal: Optics Communications - Volume 271, Issue 1, 1 March 2007, Pages 248-252
نویسندگان
K.S. Bindra, C.P. Singh, S.M. Oak,