کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1548432 | 997739 | 2013 | 13 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Nanoscale electron tomography and atomic scale high-resolution electron microscopy of nanoparticles and nanoclusters: A short surveyNanoscale electron tomography and atomic scale high-resolution electron microscopy of nanoparticles and nanoclusters: A sho
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
مواد الکترونیکی، نوری و مغناطیسی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The outstanding merits of scanning transmission electron tomography as a technique for the investigation of the internal structure and morphology of nanoparticle and nanocluster materials are summarized with the aid of numerous typical illustrations. Reference is made also to the significant advances that have arisen in probing ultrastructural characteristics of nanoscale solids using aberration-corrected (AC) electron microscopy (EM). Information of a unique kind may be retrieved by combining the imaging and analytical power of ACEM.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Progress in Natural Science: Materials International - Volume 23, Issue 3, June 2013, Pages 222-234
Journal: Progress in Natural Science: Materials International - Volume 23, Issue 3, June 2013, Pages 222-234
نویسندگان
John Meurig Thomas, Paul A. Midgley, Caterina Ducati, Rowan K. Leary,