کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1583438 | 1514892 | 2007 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Dislocation structure misorientations measured with an automated electron diffraction pattern indexing tool
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The substructures of deformed Fe–1.5%Cu alloys are investigated by use of a transmission electron microscope (TEM). The aspect of the substructure as observed in classical bright-field mode is compared with the average misorientation gradient deduced from orientation maps collected with an automated diffraction pattern indexing tool. It is shown that a significant part of the dislocation boundaries are not detectable through misorientation measurements.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science and Engineering: A - Volume 462, Issues 1–2, 25 July 2007, Pages 402–406
Journal: Materials Science and Engineering: A - Volume 462, Issues 1–2, 25 July 2007, Pages 402–406
نویسندگان
G. Shigesato, E.F. Rauch,