کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1583963 | 1514900 | 2007 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Electrical anomaly in 2SrTiO3-SiO2 glass
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Electrical anomaly in 2SrTiO3-SiO2 glass Electrical anomaly in 2SrTiO3-SiO2 glass](/preview/png/1583963.png)
چکیده انگلیسی
We report the electrical properties of 2SrTiO3-SiO2 glass in the frequency range 100 â¤Â f â¤Â 107 Hz from 30 °C to near 600 °C. We have found that the anomalous dielectric constant decreases with the increase of annealing cycle and the heat-treated sample under oxygen atmosphere. The non-Debye behavior in the complex permittivity Cole-Cole formula has been used to interpret the relaxation mechanism of a dielectric anomaly. The activation energy for the relaxation process related to oxygen vacancies is in the range of 0.5-0.6 eV. The values of α are 0.76-0.84 for the sample of the various heat-treatment conditions. We have explained that the dielectric relaxation originates from the hopping of ions and local arrangement in this system.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Science and Engineering: A - Volumes 449â451, 25 March 2007, Pages 302-305
Journal: Materials Science and Engineering: A - Volumes 449â451, 25 March 2007, Pages 302-305
نویسندگان
J.E. Kim, H.W. Choi, S.J. Kim, Ken-ichi Ohshima, Y.S. Yang,