کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1589122 | 1515167 | 2013 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Chemical 3D tomography of 28 nm high K metal gate transistor: STEM XEDS experimental method and results
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
A new STEM XEDS tomography technique is proposed thanks to the implementation of multi EDX SDD detectors in analytical TEMs. The technique flow is presented and the first results obtained on a 28 nm FDSOI transistor are detailed. The latter are compared with 2D XEDS analysis to demonstrate the interest of the slice extraction in all directions from a large analyzed volume without any 3D overlap effect issues.
► A new STEM XEDS tomography technique thanks to the implementation of multi EDX SDD detectors.
► Technique method and workflow description.
► Analyze of overlap effect: comparison with 2D analysis.
► 3D chemical visualization of a 28 nm FDSOI transistor.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 47, April 2013, Pages 43–49
Journal: Micron - Volume 47, April 2013, Pages 43–49
نویسندگان
K. Lepinay, F. Lorut, R. Pantel, T. Epicier,