کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1589128 | 1001972 | 2011 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Practical spatial resolution of electron energy loss spectroscopy in aberration corrected scanning transmission electron microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠Spatial resolution of aberration corrected STEM/EELS measured for Ti M2,3, Ti L2,3, V L2,3, Mn L2,3, La N4,5, La N2,3 La M4,5 and Sr L3 edges using oxide superlattices. ⺠EELS signals recorded using large collection angles are peaked at atomic columns. ⺠The FWHM of the EELS profiles agrees with Egerton's empirical delocalization model for Ti, V, and Mn edges in thin samples. ⺠The FWHM of the Sr and La edges is larger than the model's prediction because of scattering by heavy atomic columns.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 42, Issue 6, August 2011, Pages 539-546
Journal: Micron - Volume 42, Issue 6, August 2011, Pages 539-546
نویسندگان
A.B. Shah, Q.M. Ramasse, J.G. Wen, A. Bhattacharya, J.M. Zuo,