کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1589213 | 1001979 | 2012 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Low voltage and variable-pressure scanning electron microscopy of fractured composites
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Intensive use of Monte Carlo simulations for procedure optimization. ⺠Low voltage and low vacuum scanning electron microscopy. ⺠Guidelines for variable pressure microscope parameters optimization. ⺠Influences of beam scattering in image quality.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 43, Issue 10, October 2012, Pages 1039-1049
Journal: Micron - Volume 43, Issue 10, October 2012, Pages 1039-1049
نویسندگان
Luis Rogerio de Oliveira Hein, Kamila Amato de Campos, Pietro Carelli Reis de Oliveira Caltabiano,