کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1589282 | 1001984 | 2010 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Phase retrieval low energy electron microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Phase retrieval low energy electron microscopy Phase retrieval low energy electron microscopy](/preview/png/1589282.png)
چکیده انگلیسی
We consider the utility of phase-retrieval methods in low energy electron microscopy (LEEM). Computer simulations are presented, demonstrating recovery of the terraced height profile of atomic steps. This recovery uses phase retrieval to decode a single LEEM image, incorporating the effects of defocus, spherical aberration and chromatic aberration. The ability of the method, to obtain temporal sequences of evolving step profiles from a single LEEM movie, is discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 41, Issue 3, April 2010, Pages 232-238
Journal: Micron - Volume 41, Issue 3, April 2010, Pages 232-238
نویسندگان
R.P. Yu, S.M. Kennedy, D.M. Paganin, D.E. Jesson,