کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1590221 | 1002036 | 2007 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Pattern projection for subpixel resolved imaging in microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
In this paper, we present a new approach providing super resolved images exceeding the geometrical limitation given by the detector pixel size of the imaging camera. The concept involves the projection of periodic patterns on top of the sample, which are then investigated under a microscope. Combining spatial scanning together with proper digital post-processing algorithm yields the improved geometrical resolution enhancement. This new method is especially interesting for microscopic imaging when the resolution of the detector is lower than the resolution due to diffraction.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 38, Issue 2, February 2007, Pages 115-120
Journal: Micron - Volume 38, Issue 2, February 2007, Pages 115-120
نویسندگان
Dror Fixler, Javier Garcia, Zeev Zalevsky, Aryeh Weiss, Mordechai Deutsch,