کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1677498 1518359 2012 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
LEEM and UHV-PEEM: A retrospective
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
LEEM and UHV-PEEM: A retrospective
چکیده انگلیسی

The evolution of LEEM and the later extension to spectroscopic PEEM, which run more or less parallel to Gertrude F. Rempfer's involvement in UV-PEEM and LEEM, are recounted with emphasis on instrumentation.


► LEEM for surface structure analysis.
► XPEEM for surface chemical, electronic and magnetic analysis.
► PEEM for studying biological samples.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 119, August 2012, Pages 18–23
نویسندگان
,