کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1677525 | 1518354 | 2013 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Symmetry quantification and mapping using convergent beam electron diffraction
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠A new algorithm is developed to quantify symmetry recorded in CBED patterns. ⺠It allows a measurement of local symmetry and symmetry breaking caused by defects. ⺠The algorithm is combined with scanning electron diffraction for symmetry mapping.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 124, January 2013, Pages 71-76
Journal: Ultramicroscopy - Volume 124, January 2013, Pages 71-76
نویسندگان
Kyou-Hyun Kim, Jian-Min Zuo,