کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1677525 1518354 2013 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Symmetry quantification and mapping using convergent beam electron diffraction
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Symmetry quantification and mapping using convergent beam electron diffraction
چکیده انگلیسی
► A new algorithm is developed to quantify symmetry recorded in CBED patterns. ► It allows a measurement of local symmetry and symmetry breaking caused by defects. ► The algorithm is combined with scanning electron diffraction for symmetry mapping.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 124, January 2013, Pages 71-76
نویسندگان
, ,