کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1677528 1518354 2013 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Full tip imaging in atom probe tomography
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Full tip imaging in atom probe tomography
چکیده انگلیسی
► The full tip has been imaged by atom probe tomography. ► The conductive substrate close to specimen tip introduces extra image compression. ► The apex of the tip is far from a hemispherical shape. ► This work demonstrates a way to increase the FOV of APT.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 124, January 2013, Pages 96-101
نویسندگان
, , , , , , , , , , , , ,