کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1677528 | 1518354 | 2013 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Full tip imaging in atom probe tomography
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠The full tip has been imaged by atom probe tomography. ⺠The conductive substrate close to specimen tip introduces extra image compression. ⺠The apex of the tip is far from a hemispherical shape. ⺠This work demonstrates a way to increase the FOV of APT.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 124, January 2013, Pages 96-101
Journal: Ultramicroscopy - Volume 124, January 2013, Pages 96-101
نویسندگان
Sichao Du, Timothy Burgess, Shyeh Tjing Loi, Baptiste Gault, Qiang Gao, Peite Bao, Li Li, Xiangyuan Cui, Wai Kong Yeoh, Hark Hoe Tan, Chennupati Jagadish, Simon P. Ringer, Rongkun Zheng,