کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1677560 | 1518360 | 2012 | 13 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Convenient contrast enhancement by a hole-free phase plate
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠We present results a hole-free phase plate (HFPP) method for phase imaging in TEM. ⺠The HFPP offers up to 3à decrease in irradiation dose compared to bright field TEM. ⺠The incident beam itself defines the HFPP center, mechanical alignment is not needed. ⺠Film bias due to secondary electron emission is the likely origin of HFPP contrast.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 118, July 2012, Pages 77-89
Journal: Ultramicroscopy - Volume 118, July 2012, Pages 77-89
نویسندگان
Marek Malac, Marco Beleggia, Masahiro Kawasaki, Peng Li, Ray F. Egerton,