کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1677591 | 1518346 | 2013 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
New atom probe approaches to studying segregation in nanocrystalline materials
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: New atom probe approaches to studying segregation in nanocrystalline materials New atom probe approaches to studying segregation in nanocrystalline materials](/preview/png/1677591.png)
چکیده انگلیسی
⺠New data treatment methods allow delineation of grain boundaries, even without segregation. ⺠Proxigrams calculated from the surfaces accurately show the extent of segregation. ⺠Tessellation of the data volume can be used to map the Gibbsian interfacial excess.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 132, September 2013, Pages 158-163
Journal: Ultramicroscopy - Volume 132, September 2013, Pages 158-163
نویسندگان
S.K. Samudrala, P.J. Felfer, V.J. Araullo-Peters, Y. Cao, X.Z. Liao, J.M. Cairney,