کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1677804 | 1009910 | 2010 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Coaxial arrangement of a scanning probe and an X-ray microscope as a novel tool for nanoscience
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
We report on the design and first tests of a novel instrument aimed at combining the benefits of scanning force microscopy with those of X-ray spectroscopy. For this we built an instrument combining a scanning transmission X-ray microscope with a beam-deflection atomic force microscope in a coaxial geometry. This allows to combine X-ray absorption spectroscopy and high resolution topography in-situ. When replacing the conventional scanning probe tip by a coaxially shielded tip the instrument will allow detection of the photoelectrons produced by resonant X-ray absorption. This could yield spectroscopic information with a spatial resolution approaching the values achievable with atomic force microscopy.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 10, September 2010, Pages 1267–1272
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 10, September 2010, Pages 1267–1272
نویسندگان
I. Schmid, J. Raabe, B. Sarafimov, C. Quitmann, S. Vranjkovic, Y. Pellmont, H.J. Hug,