کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1677808 | 1009910 | 2010 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Bilateral filter based orientation smoothing of EBSD data
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Bilateral filter based orientation smoothing was implemented in this study to improve the angular precision of orientation maps for deposited and deformed structures of pure Cu obtained from electron backscattered diffraction (EBSD) measurements. Applying the method to the deformed and deposited structures, the accuracy of misorientation (or the limit of orientation noise) is enhanced from 0.7° to 0.25° and 0.07°, respectively. Orientation smoothing has two features: preservation of boundary structures or deformed substructures and significant reduction in orientation noise after only one pass.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 10, September 2010, Pages 1297–1305
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 10, September 2010, Pages 1297–1305
نویسندگان
Delphic Chen, Jui-Chao Kuo,