کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1677853 1009917 2011 10 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Towards high accuracy calibration of electron backscatter diffraction systems
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Towards high accuracy calibration of electron backscatter diffraction systems
چکیده انگلیسی
► Issues with accurate EBSD calibration are discussed. ► Optical distortion data for 17 EBSD detectors are tabulated. ► A new shadow-casting system is demonstrated; it gives a pattern centre precision of ∼10 μm and allows changes to be observed on the live EBSP.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 5, April 2011, Pages 320-329
نویسندگان
, , , ,