کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1677853 | 1009917 | 2011 | 10 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Towards high accuracy calibration of electron backscatter diffraction systems
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Towards high accuracy calibration of electron backscatter diffraction systems Towards high accuracy calibration of electron backscatter diffraction systems](/preview/png/1677853.png)
چکیده انگلیسی
⺠Issues with accurate EBSD calibration are discussed. ⺠Optical distortion data for 17 EBSD detectors are tabulated. ⺠A new shadow-casting system is demonstrated; it gives a pattern centre precision of â¼10 μm and allows changes to be observed on the live EBSP.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 5, April 2011, Pages 320-329
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 5, April 2011, Pages 320-329
نویسندگان
Ken Mingard, Austin Day, Claire Maurice, Peter Quested,