کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1677889 | 1009918 | 2011 | 20 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
REPRINT OF: Aberration measurement in HRTEM: Implementation and diagnostic use of numerical procedures for the highly precise recognition of diffractogram patterns
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠Algorithms for the highly precise diffractogram analysis in HRTEM are introduced. ⺠AMADEUS procedure measures defocus and astigmatism with a few Angstrom precision. ⺠Aberration measurement meets the precision requirements of 0.5 Ã
microscopy. ⺠Quantitative criteria for the optical stability of HRTEMs are introduced.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 7, June 2011, Pages 920-939
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 7, June 2011, Pages 920-939
نویسندگان
J. Barthel, A. Thust,