کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1677889 1009918 2011 20 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
REPRINT OF: Aberration measurement in HRTEM: Implementation and diagnostic use of numerical procedures for the highly precise recognition of diffractogram patterns
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
REPRINT OF: Aberration measurement in HRTEM: Implementation and diagnostic use of numerical procedures for the highly precise recognition of diffractogram patterns
چکیده انگلیسی
► Algorithms for the highly precise diffractogram analysis in HRTEM are introduced. ► AMADEUS procedure measures defocus and astigmatism with a few Angstrom precision. ► Aberration measurement meets the precision requirements of 0.5 Å microscopy. ► Quantitative criteria for the optical stability of HRTEMs are introduced.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 111, Issue 7, June 2011, Pages 920-939
نویسندگان
, ,