کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678188 | 1009933 | 2010 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Double aberration correction in a low-energy electron microscope
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The lateral resolution of a surface sensitive low-energy electron microscope (LEEM) has been improved below 4 nm for the first time. This breakthrough has only been possible by simultaneously correcting the unavoidable spherical and chromatic aberrations of the lens system. We present an experimental criterion to quantify the aberration correction and to optimize the electron optical system. The obtained lateral resolution of 2.6 nm in LEEM enables the first surface sensitive, electron microscopic observation of the herringbone reconstruction on the Au(1 1 1) surface.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 11, October 2010, Pages 1358–1361
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 11, October 2010, Pages 1358–1361
نویسندگان
Th. Schmidt, H. Marchetto, P.L. Lévesque, U. Groh, F. Maier, D. Preikszas, P. Hartel, R. Spehr, G. Lilienkamp, W. Engel, R. Fink, E. Bauer, H. Rose, E. Umbach, H.-J. Freund,