کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678215 | 1009935 | 2010 | 10 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
SimulaTEM: Multislice simulations for general objects
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
In this work we present the program SimulaTEM for the simulation of high resolution micrographs and diffraction patterns. This is a program based on the multislice approach that does not assume a periodic object. It can calculate images from finite objects, from amorphous samples, from crystals, quasicrystals, grain boundaries, nanoparticles or arbitrary objects provided the coordinates of all the atoms can be supplied.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 2, January 2010, Pages 95–104
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 2, January 2010, Pages 95–104
نویسندگان
A. Gómez-Rodríguez, L.M. Beltrán-del-Río, R. Herrera-Becerra,