کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678224 | 1009935 | 2010 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Tomography of asymmetric bulk specimens imaged by scanning electron microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Tomography of asymmetric bulk specimens imaged by scanning electron microscopy Tomography of asymmetric bulk specimens imaged by scanning electron microscopy](/preview/png/1678224.png)
چکیده انگلیسی
The scanning electron microscope produces nanometer-resolution surface images of biological samples preserved in a life-like state. Extracting three-dimensional information from these two-dimensional images has been the subject of long and ongoing research. We present here a general method and theoretical basis for reconstructing the surfaces of SEM specimens imaged from multiple directions by back-projection. The resulting reconstructions are faithful representations of the original specimen geometry, even when the input images are blurred and have low signal-to-noise ratio.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 2, January 2010, Pages 170–175
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 2, January 2010, Pages 170–175
نویسندگان
J.D. Woodward, B.T. Sewell,