کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678349 | 1009939 | 2006 | 10 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Interference electron microscopy of one-dimensional electron-optical phase objects
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The application of interference electron microscopy to the investigation of electron optical one-dimensional phase objects like reverse biased p–n junctions and ferromagnetic domain walls is considered. In particular the influence of diffraction from the biprism edges on the interference images is analyzed and the range of applicability of the geometric optical equation for the interpretation of the interference fringe shifts assessed by comparing geometric optical images with full wave-optical simulations. Finally, the inclusion of partial spatial coherence effects are discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 106, Issue 7, May 2006, Pages 620–629
Journal: Ultramicroscopy - Volume 106, Issue 7, May 2006, Pages 620–629
نویسندگان
P.F. Fazzini, L. Ortolani, G. Pozzi, F. Ubaldi,