کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678471 | 1009942 | 2009 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Near-grain-boundary characterization by atomic force microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Characterization of near-grain boundary is carried out by atomic force microscopy (AFM). It has been observed to be the most suitable technique owing to its capability to investigate the surface at high resolution. Commercial purity-grade nickel processed under different conditions, viz., (i) cold-rolled and annealed and (ii) thermally etched condition without cold rolling, is considered in the present study. AFM crystallographic data match well with the standard data. Hence, it establishes two grain-boundary relations viz., plane matching and coincidence site lattice (CSL Σ=9) relation for the two different sample conditions.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 109, Issue 6, May 2009, Pages 741-747
Journal: Ultramicroscopy - Volume 109, Issue 6, May 2009, Pages 741-747
نویسندگان
A.K. Pramanick, A. Sinha, G.V.S. Sastry, R.N. Ghosh,