کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678582 | 1009948 | 2006 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Precise measurement of third-order spherical aberration using low-order zone-axis Ronchigrams
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
A method for the measurement of third-order spherical aberration coefficients (Cs)(Cs) is suggested, using low-order zone-axis Ronchigrams of a crystalline material. The validity of the method is confirmed using simulated and experimental Ronchigrams taken with various probe-forming lens configurations. The precision of the measured CsCs value is drastically improved compared with that obtained from the power spectrum-analysis method. In addition, a method for roughly estimating defocus values is presented.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 106, Issue 3, February 2006, Pages 153–163
Journal: Ultramicroscopy - Volume 106, Issue 3, February 2006, Pages 153–163
نویسندگان
Takashi Yamazaki, Yasutoshi Kotaka, Yoshio Kikuchi, Kazuto Watanabe,