کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678589 | 1009948 | 2006 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
An expanded approach to noise reduction from high-resolution STEM images based on the maximum entropy method
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
An expanded use of the maximum entropy method (MEM) is suggested to reduce noise from an experimental high-angle annular dark-field (HAADF) scanning transmission electron microscope (STEM) image. The MEM is combined with an estimate of the standard deviation of noise from an experimental HAADF STEM image and low-pass filtering using the information limit for an incoherent STEM image. Consequently, the present method has just one parameter of a Lagrange multiplier. It is demonstrated that the present method can reduce noise efficiently in high-resolution HAADF STEM images.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 106, Issue 3, February 2006, Pages 233–239
Journal: Ultramicroscopy - Volume 106, Issue 3, February 2006, Pages 233–239
نویسندگان
Nobuto Nakanishi, Yasutoshi Kotaka, Takashi Yamazaki,