کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678608 | 1009949 | 2010 | 12 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Off-axis and inline electron holography: A quantitative comparison
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Off-axis and inline electron holography: A quantitative comparison Off-axis and inline electron holography: A quantitative comparison](/preview/png/1678608.png)
چکیده انگلیسی
Capable of quantitatively imaging static magnetic and electric potentials and even strain electron holography is a very versatile and powerful TEM technique. In this paper we compare off-axis electron holography with a recently developed focal series reconstruction algorithm and phase retrieval based on the transport of intensity equation. Based on theoretical considerations and simulations we compare the different techniques with respect to parameters such as the coherence requirements, field of view, resolution, noise properties, and other required experimental conditions.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 5, April 2010, Pages 460–471
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 5, April 2010, Pages 460–471
نویسندگان
Christoph T. Koch, Axel Lubk,