کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678618 | 1009949 | 2010 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A model based reconstruction technique for depth sectioning with scanning transmission electron microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Depth sectioning in high angular annular dark field scanning transmission electron microscopy is considered a candidate for three-dimensional characterization on the atomic scale. However at present the depth resolution is still far from the atomic level, due to strong limitations in the opening angle of the beam. In this paper we introduce a new, parameter based tomographic reconstruction algorithm that allows to make maximal use of the prior knowledge about the constituent atom types and the microscope settings, so as to retrieve the atomic positions and push the resolution to the atomic level in all three dimensions.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 5, April 2010, Pages 548–554
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 5, April 2010, Pages 548–554
نویسندگان
W. Van den Broek, S. Van Aert, D. Van Dyck,