کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678660 | 1009953 | 2008 | 13 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Analytic derivation of optimal imaging conditions for incoherent imaging in aberration-corrected electron microscopes
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The optimal lens parameters for incoherent imaging using third and fifth-order aberration-corrected electron microscopes are derived analytically. We propose simple models for the point spread function (PSF) and transfer function that give analytic formulae for the lateral resolution and depth resolution. We also derive an analytic formula for the contrast transfer function (CTF) in three dimensions and show that depth sectioning has an information limit equivalent to tomography with a missing cone of 90∘90∘ minus the aperture angle.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 108, Issue 11, October 2008, Pages 1454–1466
Journal: Ultramicroscopy - Volume 108, Issue 11, October 2008, Pages 1454–1466
نویسندگان
Varat Intaraprasonk, Huolin L. Xin, David A. Muller,