کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678661 | 1009953 | 2008 | 9 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Measurement method of aberration from Ronchigram by autocorrelation function
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Aberrations up to the fifth-order were successfully measured using an autocorrelation function of the segmental areas of a Ronchigram. The method applied to aberration measurement in a newly developed 300 kV microscope that is equipped with a spherical aberration corrector for probe-forming systems. The experimental Ronchigram agreed well with the simulated Ronchigram that was calculated by using the measured aberrations. The Ronchigram had an infinite magnification area with a half-angle of 50 mrad, corresponding to the convergence angle of a uniform phase.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 108, Issue 11, October 2008, Pages 1467–1475
Journal: Ultramicroscopy - Volume 108, Issue 11, October 2008, Pages 1467–1475
نویسندگان
H. Sawada, T. Sannomiya, F. Hosokawa, T. Nakamichi, T. Kaneyama, T. Tomita, Y. Kondo, T. Tanaka, Y. Oshima, Y. Tanishiro, K. Takayanagi,