کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678677 | 1009954 | 2010 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Ptychographic characterization of the wavefield in the focus of reflective hard X-ray optics
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
A technique for quantitatively characterizing the complex-valued focal wavefield of arbitrary optics is described and applied to reconstructing the coherent focused beam produced by a reflective/diffractive hard X-ray mirror. This phase-retrieval method, based on ptychography, represents an important advance in X-ray optics characterization because the information obtained and potential resolution far exceeds that accessible to methods of directly probing the focus. Ptychography will therefore be well-suited for characterizing and aligning future nanofocusing X-ray optics.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 4, March 2010, Pages 325–329
Journal: Ultramicroscopy - Volume 110, Issue 4, March 2010, Pages 325–329
نویسندگان
Cameron M. Kewish, Pierre Thibault, Martin Dierolf, Oliver Bunk, Andreas Menzel, Joan Vila-Comamala, Konstantins Jefimovs, Franz Pfeiffer,