کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1678730 1518374 2006 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Ewald sphere correction for single-particle electron microscopy
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Ewald sphere correction for single-particle electron microscopy
چکیده انگلیسی

Most algorithms for three-dimensional (3D) reconstruction from electron micrographs assume that images correspond to projections of the 3D structure. This approximation limits the attainable resolution of the reconstruction when the dimensions of the structure exceed the depth of field of the microscope. We have developed two methods to calculate a reconstruction that corrects for the depth of field. Either method applied to synthetic data representing a large virus yields a higher resolution reconstruction than a method lacking this correction.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 106, Issues 4–5, March 2006, Pages 376–382
نویسندگان
, , ,