کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678848 | 1009970 | 2009 | 10 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effect of amorphous layers on the interpretation of restored exit waves
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The effects of amorphous layers on the quality of exit wave restorations have been investigated. Two independently developed software implementations for exit wave restoration have been used to simulated focal series of images of 〈001〉SrTiO3SrTiO3 with amorphous carbon layers incorporated. The restored exit waves have been compared both qualitatively and quantitatively. We have shown that amorphous layers have a strong impact on the quantitative measurements of atomic column positions, however, the error in the position measurements is still in the picometer range.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 109, Issue 3, February 2009, Pages 237–246
Journal: Ultramicroscopy - Volume 109, Issue 3, February 2009, Pages 237–246
نویسندگان
S. Van Aert, L.Y. Chang, S. Bals, A.I. Kirkland, G. Van Tendeloo,