کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678864 | 1009973 | 2009 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Column-by-column compositional mapping by Z-contrast imaging
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
A phenomenological method is developed to determine the composition of materials, with atomic column resolution, by analysis of integrated intensities of aberration-corrected Z-contrast scanning transmission electron microscopy images. The method is exemplified for InAsxP1−x alloys using epitaxial thin films with calibrated compositions as standards. Using this approach we have determined the composition of the two-dimensional wetting layer formed between self-assembled InAs quantum wires on InP(0 0 1) substrates.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 109, Issue 2, January 2009, Pages 172–176
Journal: Ultramicroscopy - Volume 109, Issue 2, January 2009, Pages 172–176
نویسندگان
S.I. Molina, D.L. Sales, P.L. Galindo, D. Fuster, Y. González, B. Alén, L. González, M. Varela, S.J. Pennycook,