کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1678864 1009973 2009 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Column-by-column compositional mapping by Z-contrast imaging
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Column-by-column compositional mapping by Z-contrast imaging
چکیده انگلیسی

A phenomenological method is developed to determine the composition of materials, with atomic column resolution, by analysis of integrated intensities of aberration-corrected Z-contrast scanning transmission electron microscopy images. The method is exemplified for InAsxP1−x alloys using epitaxial thin films with calibrated compositions as standards. Using this approach we have determined the composition of the two-dimensional wetting layer formed between self-assembled InAs quantum wires on InP(0 0 1) substrates.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 109, Issue 2, January 2009, Pages 172–176
نویسندگان
, , , , , , , , ,