کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1678937 1518370 2007 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Cantilever dynamics and quality factor control in AC mode AFM height measurements
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Cantilever dynamics and quality factor control in AC mode AFM height measurements
چکیده انگلیسی

We show that inconsistent-imaging dynamics, in which the cantilever oscillates in the attractive regime on substrate background but in the repulsive regime on sample, leads to artifacts in apparent height in AC mode Atomic force microscopy. Active Q control can be used to effectively tune the imaging dynamics. Increased effective Q promotes the attractive regime, improves imaging sensitivity, and results in less invasive imaging of soft biological molecules.

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 107, Issues 4–5, April–May 2007, Pages 275–280
نویسندگان
, , ,