کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1678938 | 1518370 | 2007 | 12 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Quantitative comparison of image contrast and pattern between experimental and simulated high-resolution transmission electron micrographs
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Aiming to determine the contrast mismatch factor i.e. the Stobbs factor between the experimental and simulated high-resolution transmission electron micrographs, we have systematically compared the experimental images and simulations of a cleaved silicon sample for a series of focal settings and specimen thicknesses. For zero-loss energy filtered images, a mismatch factor of about 1.5–2.3 is measured for the image contrast, where the mismatch factor is focal dependent and higher mismatch appears around the focus value of 10 nm. Attention is also given to the effects of the sample vibration and drift to the image contrast and pattern of the high-resolution micrographs.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 107, Issues 4–5, April–May 2007, Pages 281–292
Journal: Ultramicroscopy - Volume 107, Issues 4–5, April–May 2007, Pages 281–292
نویسندگان
K. Du, K. von Hochmeister, F. Phillipp,